– OPTIONNEL –

Exploration de la surface membranaire des cellules par microscopie de conductance ionique à balayage

Stéphane Sebille et Christian Cognard

La Microscopie de Conductance Ionique à Balayage (ou Scanning Ion Conductance Microscopy : SICM) est une technique appartenant à la famille des microscopes à sonde locale (Scanning Probe Microscopes ou SPM). La particularité de la microscopie SICM est qu’il n’y a pas de contact direct avec l’échantillon. Le principe physique utilisé dans la microscopie SICM est basé sur la résistance au courant passant entre la pointe d’une micropipette et l’échantillon. Plus la distance entre la sonde et l’échantillon est faible, moins le courant est important et plus la résistance devient forte. La micropipette est maintenue à une distance constante par un système de rétrocontrôle mesurant les courants ioniques en continu et permettant d’obtenir des informations topographiques de la surface cellulaire sans la modifier. La microscopie SICM peut ainsi permettre l’étude de  la conséquence de l’absence de protéines du cytosquelette sur ce « relief » cellulaire et sur le fonctionnement ou la présence des canaux ioniques enchâssés dans la membrane.